Shenzhen LightE-Technology Co.,Ltd
2024-08-19
01｜檢測需求：掃描薄膜圓圈的高度差
02｜檢測方式
客戶要求掃描薄膜圓圈的高度差，根據(jù)觀察樣品我們選擇立儀科技D40A30鏡頭搭配H系列控制器進行測量
03｜光譜共焦測量結果
薄膜圓圈的高度差輪廓
04｜光譜共焦側頭
D40A30側頭相關參數(shù)
05｜H系列控制器
H系列控制器相關參數(shù)
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