2024-07-15
隨著工業(yè)的迅猛發(fā)展，精密測量技術(shù)的重要性日益凸顯。位移測量作為幾何量精準測定的關(guān)鍵，不僅要求極高的測量精度，還必須適應(yīng)多樣化的環(huán)境條件及材料特性，同時趨向于實現(xiàn)實時、無損傷的檢測方式。相較于傳統(tǒng)的接觸式測量技術(shù)，光譜共焦位移傳感器以其高速、高精度和強適應(yīng)性等顯著優(yōu)勢脫穎而出。本文將深入探討光譜共焦位移傳感器在光伏板硅片測量領(lǐng)域的應(yīng)用。
硅片對射厚度檢測
檢測需求：
1． 對射安裝測試硅片的厚度。
2． 精度要求0．005mm
3． 速度要求：1s測試一片料
檢測方式：雙鏡頭對心安裝，利用一個標準厚度的標定塊，傳感器記錄下這個標準厚度，進行標定。然后將產(chǎn)品進行測量，動態(tài)測量多個點位，將多個點位的值保存下來，去除最大值最小值，然后余下的數(shù)據(jù)做平均。
檢測結(jié)果：測試五片料32組靜態(tài)重復(fù)性數(shù)據(jù)：靜態(tài)重復(fù)精度最大值為2.013μm；
光伏板硅片柵線厚度測量
測量需求：測量太陽能光伏板硅片刪線的厚度（難點：柵線不是一個平整面，自身有一定的曲率，對測量區(qū)域的選擇隨機性影響較大）。
測試方法：單探頭在二維運動平臺上進行掃描測量——將需要掃描測量的硅片選擇三個區(qū)域進行標記，用光譜共焦單探頭單側(cè)測量（柵線厚度是柵線高度-基底的高度差），掃描過程中得到柵線的輪廓圖，柵線厚度=柵線高度與硅片基底的高度差。
測量結(jié)果：測量結(jié)果數(shù)據(jù)對比最大誤差區(qū)間為0.001μm左右。
